INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA

(Consejo Superior de Investigaciones Científicas – Universidad de Sevilla)

Curso de Especialización en CIENCIA y TECNOLOGÍA DE MATERIALES
Departmento de Postgrado del CSIC

Métodos Físicos de Análisis de Capas Finas y Superficies de Sólidos

Sevilla, del 20 al 24 de junio de 2022

Este curso de postgrado pretende familiarizar a los asistentes con algunos de los métodos físicos de análisis más utilizados en la actualidad para la caracterización, de materiales en general, y de capas finas y superficies en particular. El curso, de carácter intensivo y una semana de duración, consta de clases teóricas y sesiones prácticas. Estas últimas, desarrolladas con grupos de reducidos de alumnos, se realizarán con el equipamiento científico disponible en el Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla, el Centro Nacional de Aceleradores y el Servicio de Espectroscopía de Fotoelectrones de la Universidad de Sevilla.
El contenido y enfoque de los temas y otras actividades del curso son eminentemente prácticos, estando dirigido a científicos e ingenieros especializados en temas de análisis, diagnóstico, investigación en superficies, etc. También se considera especialmente adecuado para alumnos de tercer ciclo relacionados con la temática tratada.
Los alumnos que lo deseen podrán recibir un diploma acreditativo emitido por el Departamento de Postgrado del CSIC. Para ello, deberán superar un examen de los conocimientos adquiridos.

Inscripción

Lunes, 20 de Junio

09:00 – 09:15 RECEPCIÓN

Dr. Juan Pedro Espinós Manzorro

09:20 – 10:40 h Interaccion de fotones, electrones e iones con la materia condensada. Métodos físicos de análisis de capas finas y superficies de solidos

Dra. Asunción Fernández Camacho

11:00 – 12:20 h Espectroscopía de Fotoemisión de Rayos X: Composición Superficial

Dr. Juan Pedro Espinós Manzorro

12:30 – 13:50 h Espectroscopía de Fotoemisión de Rayos X: Estado Químico en la Superficie de Sólildos

Dr. Agustín R. González-Elipe

16:00 – 17:00 h Pérdida de Energía de Electrones en Superficies: Perfiles de Composición y Caracterización Óptica en el EUV

Dr. Francisco Yubero Valencia

17:10 – 18:10 h Caracterización Óptica y Vibracional: UV-visible, Elipsometría y Color

Dr. Francisco Yubero Valencia

Martes, 21 de Junio

09:00 – 10:00 h Microscopía Electrónica de Efecto Túnel

Dr. Juan Ramón Sánchez Valencia

10:15 – 11:35 h Plasmas en la Tecnología de Películas Delgadas

Dr. José Cotrino Bautista

11:50 – 13:00 h Microscopía Electrónica de Transmisión: Fundamentos y Aplicaciones Generales

Dra. Asunción Fernández Camacho

13:10 – 14:10 h Microscopía Electrónica de Barrido

Dra. M. Carmen Jiménez de Haro

16:00 – 17:00 h Espectroscopías Electrónicas: X-EDS y EELS. Imágenes Filtradas en Energía (EFTEM)

Dra. Cristina Rojas Ruiz

17:10 – 18:10 h Nanomanipulación, Procesado y Análisis de Propiedades en el Microscopio Electrónico

Dra. Ana Borrás Martos

Miércoles, 22 de Junio

09:00 – 10:10 h Análisis Tribológico y Mecánico de Capas Delgadas

Dr. Juan Carlos Sánchez López

10:20 – 11:30 h La Difracción y Reflectometría de Rayos X de Películas Delgadas

Dr. José María Martínez Blanes

11:40 – 12:50 h Microscopía de Fuerzas Atómicas

Dra. Carmen López Santos

13:00 – 14:00 h Caracterización Óptica y Vibracional: Fluorescencia, Infrarrojo y Raman

Dr. Angel Barranco Quero

16:00 – 17:00 h La Absorción de Rayos X de Películas Delgadas

Dr. Juan Pedro Holgado Vázquez

17:10 – 18:10 h Retrodispersión Rutherford: Perfiles de Composición

Dr. Francisco Javier Ferrer

Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla

Centro de Investigaciones Científicas Isla de la Cartuja. C/Américo Vespucio, 49 – 41092 Sevilla (España)
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