Curso de Especialización en CIENCIA y TECNOLOGÍA DE MATERIALES
Departmento de Postgrado del CSIC
Sevilla, del 25 al 29 de Junio de 2018
Este curso de postgrado pretende familiarizar a los asistentes con algunos de los métodos físicos de análisis más utilizados en la actualidad para la caracterización, de materiales en general, y de capas finas y superficies en particular. El curso, de carácter intensivo y una semana de duración, consta de clases teóricas y sesiones prácticas. Estas últimas, desarrolladas con grupos de reducidos de alumnos, se realizarán con el equipamiento científico disponible en el Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla, el Centro Nacional de Aceleradores y el Servicio de Espectroscopía de Fotoelectrones de la Universidad de Sevilla.
El contenido y enfoque de los temas y otras actividades del curso son eminentemente prácticos, estando dirigido a científicos e ingenieros especializados en temas de análisis, diagnóstico, investigación en superficies, etc. También se considera especialmente adecuado para alumnos de tercer ciclo relacionados con la temática tratada.
Los alumnos que lo deseen podrán recibir un diploma acreditativo emitido por el Departamento de Postgrado del CSIC. Para ello, deberán superar un examen de los conocimientos adquiridos.
Clases Teóricas
Dra. Asunción Fernández Camacho
Interacción de Fotones electrones e iones
Dr. Juan Pedro Espinós
Fotoemisión Composición Superficial
Dr. Agustín R. González-Elipe
Espectroscopia de Fotoemision de Rayos X
Dr. Francisco Yubero Valencia
Pérdida de Energía de Electrones en Superficies
Dr. Francisco Yubero Valencia
Caracterización Óptica y Vibracional
Dr. Juan Ramón Sánchez Valencia
Microscopia Electronica de Efecto Tunel
Dr. José Cotrino Bautista
Plasmas en la tecnologia de materiales (2016) | Plasmas en la tecnologia de materiales (2018)
Dra. Asunción Fernández Camacho
Microscopia Electronica de Transmision Fundamentos
Dra. M. Carmen Jiménez de Haro
Microscopia Electronica de Barrido
Dra. Cristina Rojas
Microscopía Electrónica XEDS y EELS
Dra. Ana Borrás Martos
Nanomanipulación, Procesado y Análisis de Propiedades en el Microscopio Electrónico
Dr. Juan Carlos Sánchez López
Analisis Tribologico y Mecanico de Capas Delgadas
Dr. José María Martínez
La Difracción y Reflectometría de Rayos X de Películas Delgadas
Dra. Carmen López Santos
Microscopia de Fuerzas Atomicas
Dra. Ángel Barranco
Dra. Juan Pedro Holgado
La Absorción de Rayos X de Películas Delgadas
Dr. Francisco Javier Ferrer
Retrodispersión Rutherford: Perfiles de Composición