Curso de Especialización en CIENCIA y TECNOLOGÍA DE MATERIALES
Departmento de Postgrado del CSIC

Sevilla, del 25 al 29 de Junio de 2018

Este curso de postgrado pretende familiarizar a los asistentes con algunos de los métodos físicos de análisis más utilizados en la actualidad para la caracterización, de materiales en general, y de capas finas y superficies en particular. El curso, de carácter intensivo y una semana de duración, consta de clases teóricas y sesiones prácticas. Estas últimas, desarrolladas con grupos de reducidos de alumnos, se realizarán con el equipamiento científico disponible en el Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla, el Centro Nacional de Aceleradores y el Servicio de Espectroscopía de Fotoelectrones de la Universidad de Sevilla.
El contenido y enfoque de los temas y otras actividades del curso son eminentemente prácticos, estando dirigido a científicos e ingenieros especializados en temas de análisis, diagnóstico, investigación en superficies, etc. También se considera especialmente adecuado para alumnos de tercer ciclo relacionados con la temática tratada.
Los alumnos que lo deseen podrán recibir un diploma acreditativo emitido por el Departamento de Postgrado del CSIC. Para ello, deberán superar un examen de los conocimientos adquiridos.

Clases Teóricas

Lunes 25 de Junio
09:00 – 09:15  RECEPCIÓN:  Dr. Juan P. Espinós

Triptico2018

09:20 – 10:40  Interaccion de fotones, electrones e iones con la materia condensada. Métodos físicos de análisis de capas finas y superficies de solidos
Dra. Asunción Fernández Camacho

Interacción de Fotones electrones e iones

11:00 – 12:20  Espectroscopía de Fotoemisión de Rayos X: Composición Superficial
Dr. Juan Pedro Espinós

Fotoemisión Composición Superficial

12:30 – 13:50  Espectroscopía de Fotoemisión de Rayos X: Estado Químico en la Superficie de Sólildos
Dr. Agustín R. González-Elipe

Espectroscopia de Fotoemision de Rayos X

16:00 – 17:00  Pérdida de Energía de Electrones en Superficies: Perfiles de Composición y Caracterización Óptica en el EUV
Dr. Francisco Yubero Valencia

Pérdida de Energía de Electrones en Superficies

17:10 – 18:10  Caracterización Óptica y Vibracional: UV-visible, Elipsometría y Color
Dr. Francisco Yubero Valencia

Caracterización Óptica y Vibracional

Martes 26 de Junio
09:00 – 10:00  Microscopía Electrónica de Efecto Túnel
Dr. Juan Ramón Sánchez Valencia

Microscopia Electronica de Efecto Tunel

10:15 – 11:35  Plasmas en la Tecnología de Películas Delgadas
Dr. José Cotrino Bautista

Plasmas en la tecnologia de materiales (2016) | Plasmas en la tecnologia de materiales (2018)

11:50 – 13:00  Microscopía Electrónica de Transmisión: Fundamentos y Aplicaciones Generales
Dra. Asunción Fernández Camacho

Microscopia Electronica de Transmision Fundamentos

13:10 – 14:10  Microscopía Electrónica de Barrido
Dra. M. Carmen Jiménez de Haro

Microscopia Electronica de Barrido

16:00 – 17:00  Espectroscopías Electrónicas: X-EDS y EELS. Imágenes Filtradas en Energía (EFTEM)
Dra. Cristina Rojas

Microscopía Electrónica XEDS y EELS

17:10 – 18:10  Nanomanipulación, Procesado y Análisis de Propiedades en el Microscopio Electrónico
Dra. Ana Borrás Martos

Nanomanipulación, Procesado y Análisis de Propiedades en el Microscopio Electrónico

Miércoles 27 de Junio
09:00 – 10:10  Análisis Tribológico y Mecánico de Capas Delgadas
Dr. Juan Carlos Sánchez López

Analisis Tribologico y Mecanico de Capas Delgadas

10:20 – 11:30  La Difracción y Reflectometría de Rayos X de Películas Delgadas
Dr. José María Martínez

La Difracción y Reflectometría de Rayos X de Películas Delgadas

11:40 – 12:50  Microscopía de Fuerzas Atómicas
Dra. Carmen López Santos

Microscopia de Fuerzas Atomicas

13:00 – 14:00  Caracterización Óptica y Vibracional: Fluorescencia, Infrarrojo y Raman
Dra. Ángel Barranco
16:00 – 17:00  La Absorción de Rayos X de Películas Delgadas
Dra. Juan Pedro Holgado

La Absorción de Rayos X de Películas Delgadas

17:10 – 18:10  Retrodispersión Rutherford: Perfiles de Composición
Dr. Francisco Javier Ferrer

Retrodispersión Rutherford: Perfiles de Composición